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插损、回损性能测试
在光通信系统中,插损和回损是评估光纤连接器、跳线及其他无源器件性能的关键指标。为确保光通信网络的稳定性和高效性,进行准确的插损和回损测试是至关重要的。
在光通信领域,高精度的插损和回损测试是确保网络质量和性能的关键。然而,由于光纤连接器种类繁多,测试需求各异,这为制造商带来了不小的挑战。此外,随着产能要求的提高,测试速度的自动化和高效性成为了迫切的需求。
维度科技针对这些挑战,提供了一套全面的解决方案,包括单芯、双联、多芯MPO和单模、多模跳线的测试。基于平台+模块化的框架设计也让用户在变更和迭代设备时更为灵活和轻松。
基于传统免缠绕式插回损仪的基础上,维度科技还提供了多种衍生的插回损系列产品,如光纤可靠性测试系统、多芯极性插回损仪、JumperRun端面-3D-插回损一体检测仪等。
JumperRun光纤连接器一站式检测仪 | 光无源可靠性测试系统 |
如何解决您面临的挑战?
1.灵活的接口设计
为了应对不同的连接器种类,我们的回损仪功率计接口采用了专利的可拆卸设计。这意味着用户可以根据实际需求自行更换待测接口,大大提高了设备的使用灵活性。
2.多功能一体化仪表
为了提高生产效率,我们设计了多种多工位合一的仪表,如多芯极性插回损测试仪和JumperRun单芯端面-3D-插回损一体测试仪。这些仪器可以满足多种测试需求,同时简化操作流程,提高生产效率。
3.用户友好的软件设计
我们深知制造中心的实际操作需求,因此在软件设计上,我们注重用户体验。我们开发了一系列用户友好的软件功能,其细致的设计确保用户可以根据自己的习惯和喜好进行操作。
如何为您保证插回损的精确度?
在光无源器件的性能测试中,尤其是跳线和连接器,插损和回损值都是关键的评价指标。尽管目前的插回损仪在插损测试上已经相当成熟,但在回损测试上,尤其是当回损值小于-60dB时,数据复测的波动性较大,这使得精确度的确保变得困难。
为了解决这一问题,维度科技经过深入研发,推出了全系列免缠绕式插回损仪。这些设备不仅解决了测试效率低、测试范围受限、需要缠绕、无法测量短光纤等常见问题,还能够确保在-80dB的范围内的高精准度。
为了进一步证明其精准度,我们使用了维度科技的4通道可调POA衰减器(型号:POA1409A-FA)和高性能免缠绕插回损仪(型号:RLM1112A-1FA)进行了实验验证。实验的原理和数据如下:
1310nm下的误差 |
1550nm下的误差 |
经过对1310nm和1550nm波长的实际回损值测试数据的深入分析,我们得出以下结论:
1. 当RL>-70dB时,RL的波动范围Δ小于0.5dB。
2. 当RL在-70dB至-75dB范围时,RL的波动范围Δ小于1.5dB。
3. 当RL在-75dB至-80dB范围时,RL的波动范围Δ小于2.5dB。
这些数据充分证明了维度科技的免缠绕插回损仪不仅具有广泛的测试范围(最低可达-80dB),而且具有高度的测量精度和稳定性。
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